tomset
BANNED | Редактировать | Профиль | Сообщение | Цитировать | Сообщить модератору От склероза. ) Забывают они информацию критичную, когда им вздумается. В том числе и от бросков питания. Даже не то что от бросков а незначительных пульсаций питания. Так как от этого зависят уровни заряда ячеек. Проверить их не убив значительно ресурс невозможно. Только условно. Записал, читается, - вероятно будет работать. Недостатки всех флешек, т.е. NAND микросхем, не зависимо от контролёров, одинаковые. - ограниченный ресурс. - не возможность записать в "грязную страницу", обязательно надо переместить часть информации и занулить только блоком. это лишние записи, лишний износ - значительное сокращение срока хранения из-за износа (10% ресурса записи сокращают время хранения в 10 раз. - Зависимость времени хранения от температуры. Допустим записал при 65 градусах - время хранения уменьшается до порядка 2-х недель. - запись в одни страницы подтирает соседние. - влияние различных жестких излучений. Пролетела частица из космоса через микросхему. Разрядила порядка 200 ячеек, восстановить информацию ни каким контролем четности-ECC уже невозможно. - ключевой характер переключения больших групп ячеек. Как не распределяй нагрузку ячеек различными алгоритмами, всегда существует вероятность, что попадется такая комбинация данных, что сработает ячеек больше чем расчитаны силовые элементы микросхем. В результате часть ячеек не до зарядится. Фактически отказы носят случайный, не предсказуемый характер. | Всего записей: 6906 | Зарегистр. 02-12-2002 | Отправлено: 19:55 04-06-2016 | Исправлено: tomset, 20:15 04-06-2016 |
|